La dérive de résistance, également connue sous le nom de changement temporel de la résistance électrique, entrave l'application des matériaux à changement de phase pour le calcul neuromorphique. Ici, un film mince amorphe de CrTe3 sans dérive de résistance dans la plage de température de travail de −200 °C à 165 °C est rapporté.