최근 X-ray 이미징 기술의 발전에도 불구하고, 개별 나노입자에서 X-ray로 유발된 초고속 구조 역학을 규명하는 것은 여전히 어려운 과제로 남아 있습니다. 본 연구에서 저자들은 새로운 계산적 이미지 분리 방법을 도입하여 XFEL을 이용한 이색(two-color) X-ray 이미징 방식을 발전시켜 헬륨 나노드롭렛에서의 해당 역학을 탐구합니다.