Авторы: Иви Лэбрук, Джон П. Райт и Марк С. Сенн Структурные фазовые переходы порождают сложные микроструктуры, которые часто определяют функциональность материала, однако прямое разрешение их трехмерной организации в объемных образцах остается сложной задачей. Здесь мы используем сканирующую трехмерную рентгеновскую дифракцию (3DXRD) для разрешения объемной микроструктуры… [Phys. Rev. Lett. 137, 126504] Опубликовано Чт, 17 сентября 2026 г.