Авторы: Юэюнь Чэнь, Ребекка Джин, Ярин Хеффес, Брайан Зуттер, Тристан П. О’Нил, Джаред Дж. Лодико, Б. К. Риган и Мэттью Маклленг Электронная микроскопия использует энергодисперсионную рентгеновскую спектроскопию (EDS) и спектроскопию потерь энергии электронов (EELS) для элементного анализа. Разрешение по энергии EDS и EELS обычно составляет от 30 до 100 эВ или от 0,01 до 1 эВ соответственно. Технология детекторов EDS с большим телесным углом увеличила сбор… [Phys. Rev. Lett. 135, 157002] Опубликовано 8 октября 2025 г.