Авторы: Йоав Шимши и Эфраим Шахмун Критическая метрология полагается на высокую чувствительность систем к изменениям параметров вблизи фазового перехода для извлечения информации с высокой точностью. Такие методы обычно требуют работы в адиабатических условиях, что подразумевает длительное время подготовки из-за критического замедления. Здесь вместо этого мы де… [Phys. Rev. Lett. 137, 103601] Опубликовано Вт 01 сен 2026 г.