Для исследования взаимодействий света с веществом на наноуровне требуется одновременный доступ к оптической анизотропии и сверхвысокому пространственному разрешению. Здесь авторы разрабатывают торсионную силовую микроскопию-инфракрасную визуализацию, обеспечивающую оптическое изображение с разрешением около нанометра и картирование локальных оптических откликов с разрешением по направлению.