В данной работе показано, что сканирующая зондовая микроскопия с трением позволяет обнаруживать атомные дефекты в MoS2, даже скрытые под поверхностью, и классифицировать их по уникальным "отпечаткам трения". Этот подход предлагает доступный способ оценки качества ультратонких материалов.