Используя сканирующую туннельную микроскопию и спектроскопию, исследователи наблюдают зависимости от слоя электронных корреляций в ромбоэдрических графеновых многослойных структурах при 77 К, раскрывая усиленные низкоэнергетические плоские зоны и межслоевые взаимодействия.