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オペランドナノデバイスにおけるホットエレクトロンの熱力学フォースイメージング

この論文では、熱的なカシミール力を検知することで、非接触でナノスケールのホット電子を検出する手法を実証しています。これにより、半導体ナノデバイスにおける非平衡ホット電子分布の直接的なオペランドマッピングが可能になります。
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Thermal Force Imaging of Hot Electrons in Operando Nanodevices
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