著者: H. Cu-Castillo, A. Bañón Navarro, G. Merlo, F. Reimold, T. Romba, O. Ford, S. Bannmann, L. Vanó, M. Wappl, J. Geiger, A. Goodman, A. Zocco, F. Jenko, and W7-X Team 急峻な密度勾配、中程度の温度勾配、および低いプラズマベータを特徴とする、乱流が低減されたWendelstein 7-X放電のジャイロ運動論的シミュレーションは、マイクロティアリングモード（MTM）乱流が輸送を支配することを示している。シミュレーションされた熱および粒子フラックスは、実験的な測定値と一致する… [Phys. Rev. Lett. 137, 035102] 2026年7月14日火曜日公開