반 데르 발스 재료의 스핀 결함을 이용하여 옹스트롬 수준의 해상도를 달성하는 전광 자기 이미징 프로토콜

저자: Ning Wang, Jianming Cai, Chao Lei 초고해상도 자기 이미징은 새로운 양자 재료의 자기 질감을 탐구하는 데 매우 중요합니다. 본 논문은 반 데르 발스 재료의 스핀 결함과 테라헤르츠(THz) 산란 기술을 결합하여 옹스트롬 규모의 해상도를 달성하는 새로운 자기 이미징 프로토콜을 제안합니다... [Phys. Rev. Lett. 135, 046901] 2025년 7월 22일 (화) 발행