Микроскопический кристаллографический анализ дислокаций в молекулярных кристаллах

Метод низкодозового однократного электронного дифракционного анализа используется для раскрытия характера дислокаций и активных систем скольжения в молекулярных кристаллах, чувствительных к пучку.