Термосиловая микроскопия горячих электронов в наноустройствах в рабочем режиме

Авторы демонстрируют бесконтактный подход для обнаружения горячих электронов на наноуровне путем измерения тепловых сил Казимира, что позволяет напрямую отображать неравновесные распределения горячих электронов в полупроводниковых наноустройствах в процессе работы.